扫描电镜(SEM)是一种利用高能电子束扫描样品表面,通过电子与物质相互作用产生的信号来获取样品表面形貌和成分信息的高分辨率显微镜。以下是SEM从原理到操作的全面指南:
一、工作原理
SEM的核心部件包括电子枪、电磁透镜、扫描线圈、样品室和探测器。电子枪发射电子束,经加速和聚焦后形成高能电子束,扫描线圈控制电子束在样品表面进行光栅扫描。电子束与样品相互作用后,激发出二次电子、背散射电子和特征X射线等信号。这些信号被探测器接收并转化为电信号,经放大和信号处理后,在显示屏上形成样品表面的图像。
二、操作步骤
样品准备:样品必须干燥、导电且无磁性。对于非导电样品,需进行镀金或喷碳处理以增加导电性。
开机与初始化:接通电源,启动真空系统,等待真空度达到要求后,启动电子束和计算机系统。
样品放置:将样品固定在样品台上,调整样品台高度和位置,确保样品处于电子束的扫描范围内。
参数设置:根据样品特性和测试需求,设置加速电压、束流、扫描速度和放大倍数等参数。
图像观察与调整:观察样品表面图像,调整亮度和对比度,移动样品台以定位感兴趣区域,进行聚焦和消像散操作。
图像保存与处理:拍摄并保存图像,必要时进行图像处理和分析。
关机:按照操作手册顺序关闭电子束、真空系统和电源。
三、应用领域
SEM广泛应用于材料科学、生物学、医学、地球科学、物理学和工程等领域,用于观察材料表面形貌、分析成分和结构、研究断口形貌和失效机制等。