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蔡司 Xradia 410 Versa X射线显微镜

简要描述:蔡司 Xradia 410 Versa X射线显微镜 高性能三维 X 射线显微镜技术解决方案与传统低成本、低性能且基于投影的计算机断层扫描(CT)系统之间的空白。多种射线源的选择可灵活应对多种样品尺寸和样品类型的成像应用。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-07-19
  • 访  问  量:3462

详细介绍

    蔡司Xradia410VersaX射线显微镜总体描述

    Xradia410Versa高性能三维X射线显微镜技术解决方案与传统低成本、低性能且基于投影的计算机断层扫描(CT)系统之间的空白。多种射线源的选择可灵活应对多种样品尺寸和样品类型的成像应用。


    蔡司Xradia410VersaX射线显微镜技术参数:

    XradiaVersa显微镜架构运用了两级放大倍率技术,从而让您不受工作距离的限制,始终保持较高空间分辨率(RaaD)。在第一级中,使用传统micro-CT系统借助几何放大倍率来放大样品图像。在第二级中,闪烁器会将X射线转换成可见光,然后再进行光学放大。降低对几何放大倍率的依赖使XradiaVersa显微仪器可以在较长工作距离内保持亚微米分辨率,从而让您能够更高效地研究不同大小的样品,包括在原位样品室内。

    无损三维成像,更大限度保护和扩展贵重样品的利用率

    <0.9µm的空间分辨率和100nm体素大小

    适用于低原子序数材料和软组织的先进成像衬度解决方案

    业界的四维和原位成像技术,适用于不同尺寸和材料类型的样品

    搜索和扫描(Scout-and-Scan™)功能可实现多用户环境下的简化工作流程

    大负荷样品台、扩展的光源及探测器行程

    几乎无样品制备需求

    通过多级放大探测器实现轻松导航

    利用自动多点断层成像和重复扫描实现连续操作

    高速重构

    可选配的Versa原位辅助装置支持环境样品舱内(如线缆和管线)的配套设施,为实现原位实验更高3D分辨率提供更优异的成像性能和轻松设置

    可选配的自动进样系统可编程和同时运行多达14个样品,提高了生产效率,全自动工作流程可用于大体积扫描

    特点:

    业界的四维和原位成像性能,适用于多种样品尺寸和样品类型

    Xradia410VersaX射线显微镜为多种样品和研究环境提供了经济灵活的3D成像解决方案。无损X射线成像技术确保了贵重样品的利用率。这款显微镜可以实现900nm的真实空间分辨率和100nm的可实现体素。先进的吸收和相位衬度技术(可用于软材料和低原子序数材料)提供了更多的功能克服传统计算机断层扫描技术的局限性。

    XradiaVersa超越了传统微米CT和纳米CT系统的限制,为拓展您的研究打下坚实的基础。传统断层扫描技术仅依赖于单级几何放大,而Xradia410Versa依靠同步辐射的光学器件,采用了蔡司的两级放大技术。XradiaVersa系列拥有灵活的衬度、高易用性和蔡司突破性的大工作距离下的高分辨率(RaaD)特性,实现在实验室中对各种类型和尺寸的样品和多种应用进行的探索。多尺度范围成像功能可以对同一样品进行大范围的多倍率成像,使其能表征材料随时间(4D)或在模拟的环境条件下(原位)的演化。

    另外,搜索和扫描控制系统(Scout-and-Scan)可根据不同的设置实现多种工作流程环境,使得Xradia410Versa方便不同经验水平的用户使用。

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