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蔡司X射线显微镜

简要描述:创新的 蔡司 Xradia 800 Ultra X射线显微镜,将高通量实验室 X 射线源与专业的X 射线光学器件整合至一套独立的超高分辨率 CT 扫描 X 射线显微镜中,从而填SEM、TEM 或 AFM 等现有高分辨率成像技术与光学显微镜技术或传统 microCT 技术之间的空白。

  • 产品型号:Xradia 800 Ultra
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-07-19
  • 访  问  量:4149

详细介绍

   蔡司Xradia800UltraX射线显微镜总体描述

   创新的Xradia800Ultra,将高通量实验室X射线源与专业的X射线光学器件整合至一套独立的超高分辨率CT扫描X射线显微镜中,从而填SEM、TEM或AFM等现有高分辨率成像技术与光学显微镜技术或传统microCT技术之间的空白。

   蔡司Xradia800UltraX射线显微镜技术参数:

蔡司Xradia800UltraX射线显微镜

   无损三维X射线成像允许在直接微观结构观察下对同一样品进行重复成像

   在原位设备中样品成像保持低至50nm的高分辨率

   用于断层扫描重构的图像自动调整功能

   视野可在15至60μm的范围内进行切换

   吸收衬度和Zernike相位衬度成像模式

   在实验室中开发、准备、测试你计划的同步实验,让有限的同步辐射时间更加有效率

   搭配Scout-and-Scan控制系统和基于工作流程的用户界面,尤其适合研究人员水平各不相同的中心实验室

   特点:

   Xradia800Ultra的分辨率低至50nm,使微观结构和进程可视化,这些是传统实验室X射线技术不能实现的。在X射线能量为8KeV下运行,穿透力和衬度适合各种材料,使您可以观察自然状态下的结构和材料。

   集成相位衬度技术的Xradia800Ultra运用Zernike方法在吸收衬度低时可增强晶界和材料交界处的可见度,使未染色的超结构和纳米结构可视化。

   蔡司Xradia800Ultra采用类似横切法的无损技术,提供可信赖的内部3D信息。大工作距离和空气样品环境使您可以轻松的进行原位研究。



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