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用于材料研究的Axio Imager 2 金相显微镜

简要描述:用于材料研究的Axio Imager 2 金相显微镜,您进行高级材料研究时,请在光学显微镜工作流程中引入易用性。使用 ZEISS Axio Imager 2 获得材料的准确且可重复的结果,让您受益匪浅。选择适合您的应用的系统。通过颗粒分析、共焦或相关显微镜等专用解决方案扩展您的仪器。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-07-19
  • 访  问  量:883

详细介绍

   可重复的结果

   享受无振动的工作条件

   欣赏AxioImager2稳定的成像条件,尤其是在使用高放大倍率或执行时间依赖性研究时。由于AxioImager2的机动化,可在始终在恒定条件下工作的同时实现快速且可重复的结果。

金相显微镜

  用于材料研究的蔡司AxioImager2蔡司金相显微镜

   用于自动材料分析的开放式显微镜系统

   当您进行高级材料研究时,请在光学显微镜工作流程中引入易用性。使用ZEISSAxioImager2获得材料的准确且可重复的结果,让您受益匪浅。选择适合您的应用的系统。通过颗粒分析、共焦或相关显微镜等专用解决方案扩展您的仪器。

   可重复的结果

   模块化设计

   模块化设计

   获得增强的灵活性

   无论是在学术研究还是工业研究中,材料显微镜都面临着各种挑战。借助AxioImager2,您将能够应对并赢得这些挑战。连接特定于应用的组件并执行例如颗粒分析。研究非金属夹杂物(NMI)、液晶或基于半导体的MEM。通过共焦或相关显微镜专用解决方案扩展您的仪器。

金相显微镜

    高光学性能

   实现出色的对比度和分辨率

   使用不同的对比技术检查一系列材料,例如金属、复合材料或液晶。

   使用反射光并在明场、暗场、微分干涉衬度(DIC)、圆微分干涉衬度(C-DIC)、偏振或荧光下观察样品。

   使用透射光并在明场、暗场、微分干涉衬度(DIC)、偏振或圆偏振下检查样品。对比度管理器确保可重复的照明设置。




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